硅基芯片及模組系列
第三代半導體芯片及模組系列
質量方針
追求卓越品質 超越客戶期望
To pursue excellent product quality and exceed customer expectation
可靠性標準
我們一直致力于向客戶提供高性能，高可靠性的產品，產品滿足以下可靠性要求
工控應用產品考核標準（單管）
| Rel item | Full name | Reference | Conditions | Read-out |
|---|---|---|---|---|
| HTRB | High Temperature Reverse Bias Test | JESD22-A108 | Tj=Tvjmax，VCE=80%VCEmax，VGE=0V | 1000h |
| HTGB | High Temperature Gate Bias Test | JESD22-A108 | Tj=Tv jmax，VCE=0V，VGE=VGEmax | 1000h |
| H3TRB | High Humidity High Temperature Reverse Bias | JESD22-A110 | Ta=85°C，RH=85%，VCE=80%VCEmax up to 100V，VGE=0V | 1000h |
| IOL | Intermittent Operational Life | MIL-STD-750 | ton=5min，toff=5min, △Tj=100°C,Tjmax=Tvjmax3000cycles | / |
| TC | Temperature Cycle | JESD22-A104 | 55°Cto 150°C,Dwell≥15min,1000cycles | / |
車規應用產品摸底考核標準（模塊）
| Rel item | Full name | Reference | Conditions | Read-out |
|---|---|---|---|---|
| HTRB | High Temperature Reverse Bias Test | XCZ-QW-PE-02 | Tj= Tjmax in datasheet， Vds = 80% BV rating，VGE=0V | 168hr 500hr 1000hr |
| HTGB | High Temperature Gate Bias Test | GB/T 29332-2012 | Tj= Tjmax in datasheet，Vge= 100% VGS rating，VCE=0V | 168hr 500hr 1000hr |
| H3TRB | High Humidity High Temperature Reverse Bias | JESD22-A110 | Ta=85℃，85%RH，VCE =80V | 168hr 500hr 1000hr |
| TC | Temperature Cycle | JESD22-A104 | -40℃/30min~125℃/30min，1000cycle | 168hr 500hr 1000hr |
| PCsec | Power Cycle second | IEC 60749-34:2011 AQG-324 | ΔTj=100℃，Tvjmax=150℃，ton/toff=5sec/5sec 50000 cycles | 50000 cycles |
| PCmin | Power Cycle minutes | IEC 60749-34:2011 AQG-324 | Tvj=Tvjopmax，Iload>=0.85Irate，ΔTc=100℃ Ton<=1.5min，Toff<=4.5min，20000 cycles | 20000 cycles |
| MV | Vibration | IEC 60068-2-6 | 1. sinusoidal vibration(6G): 100Hz , 30m/s2 200Hz , 60m/s2 440Hz , 60m/s2 2. wide-band ramdom vibration(10G): 10Hz - 2000Hz, 96.6m/s2 3. 22h for each spatial axis | 22h for each spatial axis |
客戶服務
24小時響應服務體系
芯長征始終重視客戶意見，承諾為所有中國區客戶提供快速、優質的售后服務。我們保證客戶意見的反饋渠道通暢、專用；我們保證24h時效的意見評估和反饋，同時協調研發團隊充分支持客戶需求；我們保證特定質量控制流程以處理產品質量問題。芯長征堅持傾聽客戶的聲音，以優質的服務滿足客戶多樣化需求。
客退處理流程規范
